精密超聲波測(cè)厚儀CL3/CL3DL

德國K.K(KrautKramer)公司CL3&CL3 DL精密測(cè)厚儀具有更高的精度，更多的功能：
* 分辨率可達(dá)0.001mm，精密零件優(yōu)選
* 配合不同的探頭使用時(shí)，既能滿足一般測(cè)厚要求，又能測(cè)量薄壁工件、塑料及陶瓷制品
* 背光采用場(chǎng)致發(fā)光顯示，更加明亮清晰
* 用戶自定義厚度上下極限，讀數(shù)超出后儀器自動(dòng)報(bào)警
* 德國K.K公司 精密超聲波測(cè)厚儀CL400在此基礎(chǔ)上另有附加功能

精密超聲波測(cè)厚儀CL3/CL3DL技術(shù)參數(shù)
 

操作原理 測(cè)量范圍 材料聲速 顯示刷新率 顯示 分辨率 操作時(shí)間 操作溫度 電源 自動(dòng)關(guān)機(jī) 尺寸 重量 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) 接口

超聲脈沖回波法 接觸探頭方式：2到381毫米(鋼) 延遲探頭方式：0.25到25毫米(鋼) 塑料探頭方式：從0.13毫米開始 254到15000米/秒 4Hz 4位數(shù)LCD帶背光，數(shù)字高度12.7mm 接觸探頭方式：0.01,0.1毫米 延遲探頭方式：0.001,0.01毫米 塑料探頭方式：0.001,0.01毫米 無背光情況下大于35小時(shí) －10℃到50℃ 3節(jié)1.5V AA堿性電池 不用后3.5分鐘 165×72×41mm(H×W×D) 包括電池400克 1200個(gè)讀數(shù)，99組文件(CL3DL) RS232C，SPC(CL3DL)